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封测产线提质降本利器｜BW-4022A半导体分立器件综合测试系统，解锁产线品控新优势

封测产线提质降本利器｜BW-4022A半导体分立器件综合测试系统，解锁产线品控新优势

在半导体封测量产赛道中，测试设备是把控产品品质、决定产线良率、控制生产成本的核心关键。 当下多数封测企业普遍面临测试精度不足、设备通用性差、量产效率低、数据追溯困难、生产成本居高不下等行业难题，严重制约企业产能升级与高端供应链准入。 针对封测产线量产痛点，陕西博微电通科技BW-4022A半导体分立器件测试系统，专为功率半导体量产封测量身打造。以高精度、全兼容、高自动化、低成本的核心能力，一站式解...

发布日期：2026-04-01  阅读次数：711 查看详情 >>
功能全面 精准可靠｜BW‑40/30系列 分立器件综合测试系统的行业应用与核心价值

功能全面 精准可靠｜BW‑40/30系列 分立器件综合测试系统的行业应用与核心价值

在半导体产业自主可控加速推进的今天，分立器件测试作为芯片品质“守门员”与产业链“压舱石”，正迎来技术升级与国产替代的双重机遇。陕西博微电通科技潜心研发的BW‑4022A半导体分立器件综合测试系统，以全栈测试能力、精准痛点解决、硬核国产替代实力，成为功率半导体、新能源、工业控制、封装测试等领域的核心装备选择，为中国半导体测试产业注入强劲动能。

发布日期：2026-03-16  阅读次数：249 查看详情 >>
“光耦”测试痛点多！来料/量产质量怎么控？

“光耦”测试痛点多！来料/量产质量怎么控？

光耦是强电与弱电之间的“安全桥梁”，覆盖全场景电子装备：（光耦）作为电气隔离、信号传输与电平转换的核心半导体器件，广泛应用于工业控制、新能源、轨道交通、医疗电子、消费电子、汽车电子等关键领域。其隔离性能、电流传输比（CTR）、正向压降（VF）、反向漏电流（ICEO）、击穿电压（BVCEO）等参数直接决定整机系统的安全性、稳定性与可靠性。 随着国产替代加速与高可靠场景普及，光耦的批量一致性、失效风...

发布日期：2026-03-10  阅读次数：191 查看详情 >>
智启新元，奋楫笃行｜陕西博微电通2026年元旦致辞

智启新元，奋楫笃行｜陕西博微电通2026年元旦致辞

亲爱的各位同事、合作伙伴、各界朋友： 新元肇启，万象更新。当2026年的第一缕晨光映照三秦大地，我们满怀感恩与憧憬，告别砥砺奋进的2025年，携手迈入“十五五”规划的开局之年。值此辞旧迎新之际，我谨代表陕西博微电通科技有限责任公司，向每一位并肩同行的伙伴，致以最诚挚的问候和最热烈的新年祝福！回首2025年，是博微电通科技与时代同频、向创新聚力的实干之年。我们扎根西安科技创新沃土，紧扣秦创原平台建...

发布日期：2026-01-05  阅读次数：452 查看详情 >>
半导体分立器件测试：【筑牢产业基石，智领未来升级】

半导体分立器件测试：【筑牢产业基石，智领未来升级】

半导体分立器件作为电力电子系统的核心基石，广泛应用于新能源汽车、5G通信、工业控制、航空航天等关键领域，其性能优劣直接决定终端产品的可靠性与市场竞争力。测试环节作为贯穿器件设计、生产、应用全生命周期的关键工序，既是质量管控的“防火墙”，也是技术创新的“助推器”，其重要性随着半导体技术的迭代愈发凸显。，时长00:11一、测试的核心必要性：不可或缺的质量防线 半导体分立器件的测试必要性源于技术特性与...

发布日期：2025-11-25  阅读次数：359 查看详情 >>
【光耦测试】总“卡脖子”&“凭感觉”，看看这款便携式测试设备！

【光耦测试】总“卡脖子”&“凭感觉”，看看这款便携式测试设备！

一、产品概述BW-3010A是陕西博微电通科技针对4脚三极管型光耦研发的便携式测试设备，支持输入正向压降（VF）、输出反向漏电流（ICEO）、耐压（BVCEO）、电流传输比（CTR）等核心参数测试。http://www.sxbwdt.cn其核心技术指标包括：高精度测试：CTR精度达1%+5RD，耐压测试范围0-1400V，分辨率1V，可满足工业级检测需求。便携设计：尺寸305×280×120m...

发布日期：2025-11-06  阅读次数：120 查看详情 >>
精准控温.智能补偿【解码高精度晶振温度自动补偿电压测试系统的科技内核】

精准控温.智能补偿【解码高精度晶振温度自动补偿电压测试系统的科技内核】

陕西博微电通科技有限责任公司的BW-AH-5520半导体晶振高精度温度自动补偿实验系统是一款专为半导体器件温度特性测试设计的高端设备，其技术实现、优势及应用场景如下： ，时长04:10 BW-AH-5520高精度半导体温度实验系统：【49/98工位.3Pin】 产品用途：BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度RT...

发布日期：2025-10-27  阅读次数：236 查看详情 >>
【聚焦半导体分立器件综合测试系统】 “测什么？为什么测！用在哪？” 【深度解读】

【聚焦半导体分立器件综合测试系统】 “测什么？为什么测！用在哪？” 【深度解读】

随着科技发展，高端设备应用与半导体器件发展密不可分，其应用场景与稳定性直接决定产品性能，半导体分立器件综合测试系统是半导体测试环节的核心枢纽设备，其重要意义贯穿器件全生命周期，从生产端的质量管控到应用端的可靠性保障，再到行业技术迭代，形成了“筛选-优化-保障-推动”的全链条价值，是半导体分立器件产业健康发展的关键支撑。 分立器件测试可实现半导体器件“缺陷剔除”与“性能确认”，筑牢质量基石； ...

发布日期：2025-10-20  阅读次数：409 查看详情 >>
精准洞察，卓越测量---BW-4022A半导体分立器件综合测试平台

精准洞察，卓越测量---BW-4022A半导体分立器件综合测试平台

在半导体产业蓬勃发展的浪潮中，每一颗微小的半导体器件都承载着巨大的科技使命，它的稳定性和寿命直接决定着设备的整体寿命与系统安全的保障，而半导体分立器件测试设备正是守护这些芯小小器件品质的关键利器，为半导体制造企业及应用终端行业为半导体核心功率转换元件可靠性保驾护航！ 一、严谨细微，铸就精准测试之魂 BW-4022A半导体分立器件综合测试平台采用先进的高精度传感器和精密的测量算法，如同拥有一双“...

发布日期：2025-10-10  阅读次数：844 查看详情 >>
3000A大功率浪涌电流测试！看看博微BW-ITSM

3000A大功率浪涌电流测试！看看博微BW-ITSM

BW-ITSM 浪涌电流测试仪 （方波100μm-10ms/＜1000A,正弦波100μm-10ms/＞3000A）可加热 浪涌电流测试系统BW-ITSM（方波100μm-10ms/＜1000A,正弦波100μm-10ms/＞3000A）是SIC相关半导体器件测试的重要检测设备是SIC二极管相关半导体器件测试的重要检测设备； 测试原理： -模拟浪涌电流产生：通常利用专门的电路或装置...

发布日期：2025-03-25  阅读次数：781 查看详情 >>
有没有能同时测试光耦/晶振/锂电池/压敏电阻/二极管等半导体测试设备吗？博微BW-4022C满足您定制需求！

有没有能同时测试光耦/晶振/锂电池/压敏电阻/二极管等半导体测试设备吗？博微BW-4022C满足您定制需求！

BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件进行参数测试，性能、精度、测试范围均满足客户测试需求，可用于客户端来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。 BW-4022C半导体综合测试系统采用大规模32位ARM&MCU设计，PC中文操作界面，程控软件基于LabVIEW...

发布日期：2025-03-25  阅读次数：718 查看详情 >>
常见的功率半导体可靠性测试项目

常见的功率半导体可靠性测试项目

功率半导体可靠性测试的常见测试项目、流程及原理如下： 一.高温反偏测试（HTRB）： -原理：在高温环境下对功率半导体器件施加反向偏压，检测芯片钝化层、钝化拓扑、芯片边缘密封的薄弱点。主要关注生产过程中相关离子污染物在温度和电场作用下的迁移作用，这种迁移会增加表面电荷、增大漏电流以及产生阈值电压退化；同时模块组装过程和组装材料热膨胀系数的差异对钝化层完整性产生影响，使模块易受外部污染物污染，...

发布日期：2024-11-04  阅读次数：1211 查看详情 >>
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