半导体功率循环试验系统BW-PC-3000A

各种封装的二极管、三极管、场效应管、可控硅、IGBT、IPM 等器件进行热阻测试、功率循环（Psec秒级、Pmin 分钟级）、Rth 热阻/Zth 热阻抗、满足 SiC MOSFET 产品。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750、JESD51、IEC60747、AQG324 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。