高温高湿反偏实验系统BW-H3TRB-C16
适用于各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET（支持耗尽型产品）、IGBT 单管、IGBT 模块、IPM 模块、桥堆等进行高温高湿反偏试验。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
