高加速温湿度应力试验系统BW-HAST-H4
适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等半导体器件进行 HAST 试验。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
