BW-3011A
固态继电器/可控硅光耦参数测试仪
品牌： 博微电通
名称：固态继电器/可控硅光耦参数测试仪
型号： BW-3011A
用途： BW-3011A固态继电器/可控硅光耦参数测试仪专为各种4 脚、 6脚 交/直流型光耦固态继电器提供了输入正向压降（VF）和输出正反向耐压、触发电流、导通内阻、导通压降等主要参数的测试、和参数”合格/不合格”(OK/NO)测试。
4脚光电 (如 PC817等类型）
4脚开关(4脚SS_Relay) （如AQY210等类型）
4脚可控硅（如FOMD3022等类型）
6脚开关（6脚SS_Relay）(如LH1525等类型)
6脚可控硅 （如moc3021类型）
6脚单向可控硅 (如4N39)
BW-3011A产品介绍：
BW-3011A固态继电器/可控硅光耦参数测试仪专为各种4 脚、 6脚 交/直流型光耦固态继电器提供了输入正向压降（VF）和输出正反向耐压、触发电流、导通内阻、导通压降等 主要参数的测试、和参数”合格/不合格”(OK/NO)测试、且测试条件可以任意设置、测试正向压降和输出电流可达2A、中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,便于日后方便且快速的打开调用；操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数：
产品信息
产品型号：BW-3011A
产品名称：便携式固态继电器/可控硅光耦参数测试仪；
物理规格
主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量：＜4.5Kg
主机颜色：白色系
电气环境
主机功耗：＜75W
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度：≯85%；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或易燃性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
服务领域：
应用场景：
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行检验/全检，把控器件的良品率）
产品特点：
>大屏幕液晶, 中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
>大容量 EEPROM 存储器,储存量可多达 1000 种设置型号数.
>全部可编程的 DUT 恒流源和电压源.
>内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路, 电压/电流源和测试回路.
>高压测试电流分辨率 1uA,测试电压可达 1400V；
>重复 ”回路 ”式测试解决了元件发热和间歇的问题；
>软件自校准功能；
> 自动测试测 DUT 短路 、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；
>DUT 的功能检测通过 LCD 显示出被测器件/DUT 的类型， 显示测试结果是否合格,并有声光提示；
>两种工作模式 ：手动 、 自动测试模式。
技术指标：
■4脚三极管光耦(4脚光电)参数指标表:
|
参数項 |
测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件设置 |
|
输入正向压降(VF) |
0-2.000V |
2mV |
<2%+2RD |
0-400MA |
|
耐压(BVCEO) |
0-1400V |
2V |
<2%+2RD |
0-2.000MA |
|
电流传输比(CTR) |
0-9999 |
1% |
<2%+2RD |
BVCE：0-20VIF:0-100MA |
|
导通压降(VSAT) |
0-2V |
2mV |
<2%+2RD |
IF:0-400MA IL:0-1.00A |
|
输出漏电流(Iceo) |
0-2000uA |
1UA |
<2%+2RD |
BVCE=22V |
可分档位总数：5档。
■固态继电器光耦(SS_Relay)参数指标表:
|
参数項 |
测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件设置 |
|
输入正向压降(VF) |
0-2.000V |
2mV |
<2%+2RD |
0-400MA |
|
耐压(VL) |
0-1400V |
2V |
<2%+2RD |
0-2.000MA |
|
触发电流(IFT) |
0-20MA |
10uA |
<2%+2RD |
VCE:0-20V IL:0-2.000A |
|
导通内阻(Rson) |
0-999.9R |
0.1R |
<2%+2RD |
IF:0-400MA IL:0-2.00A |
|
开关特性(常开/常闭) |
自动识别 |
|
|
|
测可分档位总数：5档。
测试范围：AQY210 212 AQV210 AQV414，LH1500 LH1540等4脚 6脚单组类型。
■可控硅光耦参数指标表:
|
参数項 |
测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件设置 |
|
输入正向压降(VF) |
0-2.000V |
2mV |
<2%+2RD |
0-400MA |
|
耐压(VDRM) |
0-1400V |
2V |
<5%+2RD |
0-2.000MA |
|
触发电流(IFT) |
0-20MA |
10uA |
<2%+2RD |
VT:0-20V IT:0-2.000A |
|
导通压降(VTM) |
0-2.000V |
2mV |
<1%+2RD |
IF:0-400MA IT:0-2.00A |
|
输出特性(过零/非过零) |
自动识别 |
|
|
识别测试电压25V |
测试范围：MOC3020-3023 3041-83 BRT21-23 TLP741等各种4脚 6脚单组类型。
可分档位总数：5档。
BW-3011A 测试定义与规范：
测试参数和使用英文注释
修改型号：是用于修改已设置好的型号参数。（包括测试条件，上下限参数和型号名）。
可测器件的 类型
4脚光电 (如 PC817等类型）
4脚开关(4脚SS_Relay) （如AQY210等类型）
4脚可控硅 （如FOMD3022等类型）
6脚开关（6脚SS_Relay）(如LH1525等类型)
6脚可控硅 （如moc3021类型）
6脚单向可控硅 (如4N39)
4脚光电类型引脚和测试条件注释
※ 引脚
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.
※ 测试条件及测试设置参数
(1)VF:If: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.
(2)Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
(3)Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
(4)CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。
(5)CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。
(6)Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
(7)Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。
脚开关类型
※ 引脚
（1）AKLL:表示引脚自左向右排列分别为 ,A K L1 L2极.
※ 测试条件
(1)VF:If:表示测试输入正向压降VF时的测试电流.
(2)VL:Bv:表示测试输出端耐压的测试电压.
(3)VL:Ir：表示测试输出端耐压时的电流限制值.
(4)IFT:VL:表示测试输入/输出触发电流时输出端加的电压值.
(5)IFT:IL:表示测试输入/输出触发电流时输出端加的电流值.
(6)Rson：If：表示测试输出端导通内阻输入端加的测试电流值.
(7)Rson：Ic：表示测试输出端导通内阻输出端加的测试电流值.
※ 测试显示参数
(1)VF:表示输入端的正向压降,一般为1.0-1.6V左右.
(2)VL:表示输出端的耐压值.
(3)IFT:表示输出端导通时输入端所需的最小电流.
(4)Rson:输出端加一定电流值时的导通内阻值.
(5)FU:功能特性显示.0表示输出端为常开.1表示输出端为常闭.
(6)IN:AKLL表示已经引脚排列.
6脚可控硅类型引脚和测试条件注释
※ 引脚
（1）AKTT:表示引脚自左向右排列分别为 ,A K T1 T2极.
※ 测试条件及测试设置参数
(1) VF:If:表示
（2）Vdrm：Bv：表示测试电压值,因本机测试采用扫描方式,该项没用.
(3)Vdrm：Ir：表示测试耐压时的电流限制值.
(4)IFT:IT:表示测试输入/输出触发电流时输出端加的电流值.
(5)IFT:VD; 表示测试输入/输出触发电流时输出端加的电压值.
(6)VTM:If: 表示测试输出端导通压降输入端加的测试电流值.
(7)VTM;Ic；表示测试输出端导通压降输出端加的测试电流值.
※ 测试显示参数
(1)VF:表示输入端的正向压降,一般为1.0-1.6V左右.
(2)Vdrm:表示输出端的耐压值.
(3)IFT:表示输出端导通时输入端所需的最小电流.
(4)VTM:输出端加一定电流值时的导通压降值.
(5)FU:功能特性显示.0表示输出端为非过零.1表示输出端有过零功能.
(6)IN:AKTT表示已经引脚排列.
