BW-JYJX-TZX 系列探针台

产品介绍： BW-JYJX-TZX系列探针台主要应用于半导体芯片制造：芯片测试、工艺检测及晶圆测试；半导体器件研发：新型器件开发材料特性研究等，集成电路失效分析：故障定位、缺陷检测以及光学器件检测等适用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。应用于4寸～12寸Wafer测试，主要使用在晶圆厂家、LED生产企业以及高校半导体研究等领域。 产品配置及系统方案：根据半导体实验目的及课程方案进行定制化配置。